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METTLER梅特勒密度天平XS3DU

  • 產品型號:
  • 更新時間:2024-11-13

簡要描述:極限值XS3DU雙量程典型值XS3DU雙量程稱量值3

產品詳情


極限值    XS3DU雙量程典型值    XS3DU雙量程
稱量值    3.1 g典型重復性(sd)   0.0005 mg +1.2 x (10?C7)?R_gr
可讀性    0.01 mg 典型微分非線性(sd)   √2x(10-12)g?R_nt
稱量值    0.8 g典型微分四角誤差(sd)   1.2 x (10?C6)?R_nt
可讀性    0.001 mg典型靈敏度偏移(sd)   3 x (10?C6)?R_nt
重復性(sd) - 加載處    0.006 mg典型最小稱量值*    @ U=1 %, 2 sd) 0.1 mg+2.4 x (10?C6)?R_gr
- 低加載(加載處)   0.005 mg (0.2 g)典型穩(wěn)定時間    < 6 sec
重復性(sd) - 加載處    0.001 mg穩(wěn)定時間    < 10 sec
- 低加載(加載處)   0.0008 mg (0.2 g)1) 根據(jù)OIML R76 
2) 在10到30°C的溫度范圍內 
3) 次安裝,使用proFACT校準,靈敏度穩(wěn)定性 
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質量) a=年
* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進:- 選擇適當?shù)姆Q量參數(shù)設置,
- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。
線性誤差  

  0.004 mg

四角誤差(加載處)0.005 mg (2 g)



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